Samsung Galaxy Note7’nin geri çağırılmasından bu yana uzun bir süre geçti. Bu süreçte Galaxy Note7’nin neden patladığıyla ilgili olarak birçok iddia ortaya atıldı. Bazıları suçu tasarımda bulurken bazıları ise pillerin sorunlu olduğunu belirtti. Ancak Samsung bu sırada sessizliğini korudu ve herhangi bir şekilde resmi açıklamada bulunmadı. Uzun süren bekleyişin ardından nihayet Samsung’tan konuyla ilgili açıklama geldi.
Yapılan açıklamaya göre Samsung Galaxy Note7’de iki tür ana problem tespit edilmiş durumda. İlk geri çağırmaya pilin sağ üst kısmının neden olduğu belirtiliyor. Burada elektrotların normalde düz şekilde durması gerektiğini belirten Samsung, kavisli tasarım nedeniyle negatif elektrotun eğildiğini ve bu nedenle de oluşan kısa devreyle patlamaların yaşandığını belirtiyor.
İkinci geri çağırmanın nedeninde ise pillerdeki izolasyon sorunu yatıyor. Normalde pilin pozitif ve negatif kısımlarının arasında izole bant kullanılıyor ve böylece uçların birbirine değmesi engelleniyor. Ancak kullanılan pillerin birçoğunda izole bantın yer almadığı ve bunun da patlamaları tetiklediği ifade ediliyor.
İlk başta üretilen cihazlarda sorun yaşanmasının ardından yenilenmiş cihazları piyasaya süren Samsung, sorunun hızlıca giderilmesi için yeni üretilen pillerde acele edildiğini ve bunun da ikinci bir sorunu ortaya çıkardığını dile getiriyor.
Sorunun tespit edilebilmesi için 700 çalışanın bu alanda görevlendiği belirtilirken 200 bin telefon ve 30 bin ayrı pilin ayrı ayrı test edildiği söyleniyor. Sadece kendi edindiği bilgilerle yetinmeyen şirketin UL, Exponent ve Alman TUV Rheinland’ı da sürece dahil ettiği ve çalışmaları doğrulattığı ifade ediliyor.
8 AŞAMALI GÜVENLİK TESTİ DÖNEMİ BAŞLIYOR
Galaxy Note7’den önemli dersler aldığını belirten Samsung, güvenlik kontrollerini sıklaştırıyor. Yapılan testleri gözden geçiren teknoloji devi bundan böyle yeni cihazlarında bu konuda herhangi bir sorun yaşanmaması için 8 aşamalı güvenlik testine geçiş yapılıyor. Samsung’un bu yeni testlerle birlikte endüstride standartları belirleyeceği dile getiriliyor.
Pilleri yüksek sıcaklık ve aşırı şarj gibi durumlarla test edeceğini belirten Samsung, hem dışarıdan hem de X-Ray ile içten pilin yapısını kontrol etmeye başlayacağını ifade ediyor. Pilin içinin açılarak kalite kontrol uygulaması yapılacağı dile getirilirken pilin birçok şarj-deşarj sürecinden geçeceği söyleniyor. Pilde herhangi bir sızıntı olmadığının test edileceği belirtilirken ayrıca kısa devre gibi durumların tespiti için voltaj ölçümlerinin gerçekleştirileceği de açıklananlar arasında yer alıyor. Son olarak kullanım senaryolarının hızlandırılmış olarak test edileceği ve böylece kullanıcının günlük kullanımda cihazla ilgili sorun yaşamamasının sağlanacağı belirtiliyor.
